Система та метод поляриметричного калібрування оптичних компонентів на основі мюллер-матричного підходу - Заболотна, Н.І.; Швидюк, О.С. (Оптико-електроннi iнформацiйно-енергетичнi технологiї, 2026)
В статті розроблено метод калібрування оптичних компонентів на основі визначення та статистичного аналізу двовимірних розподілів похибок вимірювання матриць Мюллера, доповнений бінарною класифікацією. Наведено відповідну архітектуру системи Мюллер-матричного поляриметричного калібрування оптичних компонентів з блоком класифікаційного аналізу на основі порогового оброблення.