Маліновський, В., Куперштейн, Л. і Каплун, В. 2023. Aналіз основних інформаційних загроз і впливів у сучасних мікроконтролерних системах (аналітичний огляд). Оптико-електроннi iнформацiйно-енергетичнi технологiї. 44, 2 (Січ 2023), 100–113. DOI:https://doi.org/10.31649/1681-7893-2022-44-2-100-113.