(1)
Маліновський, В.; Куперштейн, Л.; Каплун, В. Aналіз основних інформаційних загроз і впливів у сучасних мікроконтролерних системах (аналітичний огляд). Опт-ел. інф-енерг. техн. 2023, 44, 100-113.