Маліновський, В., Куперштейн, Л., & Каплун, В. (2023). Aналіз основних інформаційних загроз і впливів у сучасних мікроконтролерних системах (аналітичний огляд). Оптико-електроннi iнформацiйно-енергетичнi технологiї, 44(2), 100–113. https://doi.org/10.31649/1681-7893-2022-44-2-100-113