МАЛІНОВСЬКИЙ, В.; КУПЕРШТЕЙН, Л.; КАПЛУН, В. Aналіз основних інформаційних загроз і впливів у сучасних мікроконтролерних системах (аналітичний огляд). Оптико-електроннi iнформацiйно-енергетичнi технологiї, [S. l.], v. 44, n. 2, p. 100–113, 2023. DOI: 10.31649/1681-7893-2022-44-2-100-113. Disponível em: https://oeipt.vntu.edu.ua/index.php/oeipt/article/view/629. Acesso em: 22 лис. 2024.