СКОРЮКОВА, Я.; МАРТИНЮК, Т.; МАРКОВ, С.; КОКУШКІН, В. Особливості виявлення еталонного зображення на напівтоновому зображенні за методом бінарних зрізів. Оптико-електроннi iнформацiйно-енергетичнi технологiї, [S. l.], v. 47, n. 1, p. 78–87, 2024. DOI: 10.31649/2413-4503-2024-17-1-78-87. Disponível em: https://oeipt.vntu.edu.ua/index.php/oeipt/article/view/686. Acesso em: 25 лип. 2024.