Маліновський, В.І., Л.М. Куперштейн, і В.А. Каплун. 2023. «Aналіз основних інформаційних загроз і впливів у сучасних мікроконтролерних системах (аналітичний огляд)». Оптико-електроннi iнформацiйно-енергетичнi технологiї 44 (2):100-113. https://doi.org/10.31649/1681-7893-2022-44-2-100-113.