Маліновський, В., Куперштейн, Л. і Каплун, В. (2023) «Aналіз основних інформаційних загроз і впливів у сучасних мікроконтролерних системах (аналітичний огляд)», Оптико-електроннi iнформацiйно-енергетичнi технологiї, 44(2), с. 100–113. doi: 10.31649/1681-7893-2022-44-2-100-113.