В. Маліновський, Л. Куперштейн, і В. Каплун, «Aналіз основних інформаційних загроз і впливів у сучасних мікроконтролерних системах (аналітичний огляд)», Опт-ел. інф-енерг. техн., вип. 44, вип. 2, с. 100–113, Січ 2023.