[1]
Я. Скорюкова, Т. Мартинюк, С. Марков, і В. Кокушкін, «Особливості виявлення еталонного зображення на напівтоновому зображенні за методом бінарних зрізів», Опт-ел. інф-енерг. техн., вип. 47, вип. 1, с. 78–87, Чер 2024.