Маліновський, В., Л. Куперштейн, і В. Каплун. «Aналіз основних інформаційних загроз і впливів у сучасних мікроконтролерних системах (аналітичний огляд)». Оптико-електроннi iнформацiйно-енергетичнi технологiї, вип. 44, вип. 2, Січень 2023, с. 100-13, doi:10.31649/1681-7893-2022-44-2-100-113.