Маліновський, В.І., Л.М. Куперштейн, і В.А. Каплун. «Aналіз основних інформаційних загроз і впливів у сучасних мікроконтролерних системах (аналітичний огляд)». Оптико-електроннi iнформацiйно-енергетичнi технологiї 44, no. 2 (Січень 17, 2023): 100–113. дата звернення Листопад 22, 2024. https://oeipt.vntu.edu.ua/index.php/oeipt/article/view/629.