Маліновський В, Куперштейн Л, Каплун В. Aналіз основних інформаційних загроз і впливів у сучасних мікроконтролерних системах (аналітичний огляд). Опт-ел. інф-енерг. техн. [інтернет]. 17, Січень 2023 [цит. за 20, Квітень 2024];44(2):100-13. доступний у: https://oeipt.vntu.edu.ua/index.php/oeipt/article/view/629