Моделювання впливу поверхневих умов та зовнішніх полів на параметр порядку рідких кристалів

Автор(и)

  • Ю. В. Баштик Національний університет «Львівська політехніка»
  • О. В. Бойко Львівський національний медичний університет ім. Д.Галицького
  • А. В. Фечан Національний університет «Львівська політехніка»
  • О. В. Чабан Національний університет «Львівська політехніка»

Ключові слова:

рідкий кристал, комп’ютерне моделювання, молекулярна динаміка

Анотація

Робота присвячена моделюванню розподілу директора рідкокристалічного зразка методами молекулярної динаміки. Робота виконувалась з використанням пакета прикладних програм GBMOLD. Отримано розподіли поля директора під впливом поверхневих орієнтаційних ефектів та зовнішніх полів. Показано вплив цих факторів на ступінь упорядкованості рідкокристалічного матеріалу.

Біографії авторів

Ю. В. Баштик, Національний університет «Львівська політехніка»

аспірант кафедри «Електронні прилади»

О. В. Бойко, Львівський національний медичний університет ім. Д.Галицького

к.т.н., доцент, завідувач кафедри медичної інформатики

А. В. Фечан, Національний університет «Львівська політехніка»

д.т.н., доцент, професор кафедри «Електронні прилади»

О. В. Чабан, Національний університет «Львівська політехніка»

аспірант кафедри «Електронні прилади»

Посилання

1. Leach A. Molecular modeling: principles and applications / A. Leach. — Har-low : Pearson, 2001.
2. Israelachvili J. Intermolecular and surface forces / J. Israelachvili. — San Di-ego: Academic Press, 1992.
3. Ryckaert J. Molecular dynamics of liquid n-butane near its boiling point / J. Ryckaert,
A. Bellemans // Chem. Phys. Lett. — 1990. — Vol. 30, no. 1. — Pp. 123—125.

##submission.downloads##

Переглядів анотації: 195

Опубліковано

2015-07-20

Як цитувати

[1]
Ю. В. Баштик, О. В. Бойко, А. В. Фечан, і О. В. Чабан, «Моделювання впливу поверхневих умов та зовнішніх полів на параметр порядку рідких кристалів», Опт-ел. інф-енерг. техн., вип. 29, вип. 1, с. 103–108, Лип 2015.

Номер

Розділ

Оптична і квантова електроніка в комп'ютерних та інтелектуальних технологіях

Метрики

Завантаження

Дані завантаження ще не доступні.

Статті цього автора (авторів), які найбільше читають