АНАЛІТИЧНІ ОСНОВИ ПОЛЯРИЗАЦІЙНОГО КАРТОГРАФУВАННЯ БАГАТОШАРОВИХ ДВОПРОМЕНЕ- ЗАЛОМЛЮЮЧИХ ПОЛІКРИСТАЛІЧНИХ МЕРЕЖ

Authors

  • N. I. Zabolotna Вінницький національний технічний університет

Abstract

Розглянуто взаємозв’язок між Мюллер-матричним і поляризаційним картографуванням багатошарових двопроменезаломлюючих мереж. На основі моделювання координатних розподілів азимутів і еліптичностей двопроменезаломлюючих багатошарових мереж виявлені взаємозв’язки між їх статистичними, кореляційними і фрактальними характеристиками при збільшенні кількості шарів. Запропоновані результати є підґрунтям для розробки критеріїв диференціації оптичних властивостей багатошарових полікристалічних мереж.

Author Biography

N. I. Zabolotna, Вінницький національний технічний університет

к.т.н., доцент, декан факультету функціональної електроніки та лазерної техніки, доцент кафедри лазерної та оптоелектронної техніки

Downloads

Abstract views: 232

How to Cite

[1]
N. I. Zabolotna, “АНАЛІТИЧНІ ОСНОВИ ПОЛЯРИЗАЦІЙНОГО КАРТОГРАФУВАННЯ БАГАТОШАРОВИХ ДВОПРОМЕНЕ- ЗАЛОМЛЮЮЧИХ ПОЛІКРИСТАЛІЧНИХ МЕРЕЖ”, Опт-ел. інф-енерг. техн., vol. 22, no. 2, pp. 110–117, Oct. 2013.

Issue

Section

Biomedical Optical And Electronic Systems And Devices

Metrics

Downloads

Download data is not yet available.

Most read articles by the same author(s)

<< < 1 2 3