АНАЛІТИЧНІ ОСНОВИ ПОЛЯРИЗАЦІЙНОГО КАРТОГРАФУВАННЯ БАГАТОШАРОВИХ ДВОПРОМЕНЕ- ЗАЛОМЛЮЮЧИХ ПОЛІКРИСТАЛІЧНИХ МЕРЕЖ

Автор(и)

  • Н. І. Заболотна Вінницький національний технічний університет

Анотація

Розглянуто взаємозв’язок між Мюллер-матричним і поляризаційним картографуванням багатошарових двопроменезаломлюючих мереж. На основі моделювання координатних розподілів азимутів і еліптичностей двопроменезаломлюючих багатошарових мереж виявлені взаємозв’язки між їх статистичними, кореляційними і фрактальними характеристиками при збільшенні кількості шарів. Запропоновані результати є підґрунтям для розробки критеріїв диференціації оптичних властивостей багатошарових полікристалічних мереж.

Біографія автора

Н. І. Заболотна, Вінницький національний технічний університет

к.т.н., доцент, декан факультету функціональної електроніки та лазерної техніки, доцент кафедри лазерної та оптоелектронної техніки

##submission.downloads##

Переглядів анотації: 189

Як цитувати

[1]
Н. І. Заболотна, «АНАЛІТИЧНІ ОСНОВИ ПОЛЯРИЗАЦІЙНОГО КАРТОГРАФУВАННЯ БАГАТОШАРОВИХ ДВОПРОМЕНЕ- ЗАЛОМЛЮЮЧИХ ПОЛІКРИСТАЛІЧНИХ МЕРЕЖ», Опт-ел. інф-енерг. техн., вип. 22, вип. 2, с. 110–117, Жов 2013.

Номер

Розділ

Біомедичні оптико-електронні системи та прилади

Метрики

Завантаження

Дані завантаження ще не доступні.

Статті цього автора (авторів), які найбільше читають

1 2 > >>