МЕТРИЧНІ ОЗНАКИ В ДВОВИМІРНОМУ ТА ТРИВИМІРНОМУ ПРОСТОРІ

Authors

  • ANTONINA HERONIIVNA BUDA Вінницький національний технічний університет
  • TETIANA BORYSIVNA MARTYNIUK Вінницький національний технічний університет
  • Leonid Mykhailovych Kupershtein Вінницький національний технічний університет
  • ANDRII VIKTOROVYCH KOZHEMYaKO Вінницький національний технічний університет

Keywords:

pattern recognition, image identification, flat and spatial images, geometrical and central moments, standard of compressed image

Abstract

In this paper, one of the stages of image recognition, coding and analysis of information that is successfully used in artificial intelligence methods is considered. The proposed symbolic description of the image the "center-pattern" is presented in a compressed form and provides simpler transformations for the allocation of metric features. The created standards, that consider the properties of the mathematical model, expand the information space of features that are acceptable for analyzing flat and spatial images in technical devices. For hardware implementation in each specific case choose compromise options and provide image processing in real-time systems. The implementation of the processing unit in such recognition systems using nanotechnology allows achieving high performance, providing high speed, information density, wide bandwidth and low transmission costs.

Author Biographies

ANTONINA HERONIIVNA BUDA, Вінницький національний технічний університет

кандидат технічних наук, доцент кафедри системного аналізу, комп`ютерного моніторингу та інженерної графіки

TETIANA BORYSIVNA MARTYNIUK, Вінницький національний технічний університет

доктор технічних наук, професор кафедри обчислювальної техніки

Leonid Mykhailovych Kupershtein, Вінницький національний технічний університет

кандидат технічних наук., доцент кафедри захисту інформації

ANDRII VIKTOROVYCH KOZHEMYaKO, Вінницький національний технічний університет

кандидат технічних наук, доцент кафедри лазерної та опто-електронної техніки

Downloads

Abstract views: 334

Published

2018-09-04

How to Cite

[1]
A. H. BUDA, T. B. MARTYNIUK, L. M. Kupershtein, and A. V. KOZHEMYaKO, “МЕТРИЧНІ ОЗНАКИ В ДВОВИМІРНОМУ ТА ТРИВИМІРНОМУ ПРОСТОРІ”, Опт-ел. інф-енерг. техн., vol. 34, no. 2, Sep. 2018.

Issue

Section

OptoElectronic/Digital Methods and Systems for Image/Signal Processing

Metrics

Downloads

Download data is not yet available.

Most read articles by the same author(s)